This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction, electron diffraction and other techniques; theoretical models of non-random faulting during phase transitions; specific examples of – close packed structures including, zinc sulphide, silicon carbide and silver iodide.
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● صفحات 400 ● ISBN 9781351552370 ● الناشر CRC Press ● نشرت 2017 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 5325488 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM