Yi-Kan Cheng & Sung-Mo (Steve) Kang 
Electrothermal Analysis of VLSI Systems [PDF ebook] 

الدعم

Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.

€114.33
طرق الدفع
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● ISBN 9780306470240 ● الناشر Springer US ● نشرت 2005 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 4631403 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM

المزيد من الكتب الإلكترونية من نفس المؤلف (المؤلفين) / محرر

18٬519 كتب إلكترونية في هذه الفئة