In diesem ersten Lehrbuch mit dem Schwerpunkt Bildgewinnung und automatische Sichtprüfung stellen die Autoren alle gängigen Bildgewinnungsverfahren systematisch dar und leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab. Der zweite Teil ist der Bildsignalbeschreibung und -auswertung gewidmet, insbesondere den Methoden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind. Das Buch ist für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus ebenso geeignet wie für Ingenieure in der Automatisierungstechnik.
विषयसूची
Teil I: Bildgewinnung.- Licht.- Optische Abbildung.- Radiometrie.- Farbe.- Sensoren zur Bildgewinnung.- Bildaufnahmeverfahren.- Teil II: Bildauswertung.- Bildsignale.- Vorverarbeitung und Bildverbesserung.- Bildrestauration.- Segmentierung.- Morphologische Bildverarbeitung.- Texturanalyse.- Detektion.- Multiskalenanalyse.
लेखक के बारे में
Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer hat mit einer Arbeit zur Texturanalyse und damit auf dem Gebiet Bildverarbeitung 1994 promoviert, habilitierte sich im Jahr 1994 auf dem Gebiet Messtechnik und leitete 5 Jahre lang ein Kleinunternehmen, das Automatische Sichtprüfung im industriellen Umfeld einsetzte und innovative Systeme entwickelte. Seit 2004 ist Prof. Beyerer Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, eines Schwerpunktinstituts der Fraunhofer-Gesellschaft zum Thema Bildauswertung in Karlsruhe. Ebenfalls seit 2004 hat er den Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (Vision and Fusion Lab) im Institut für Anthropomatik am KIT inne, das sich intensiv mit Fragen der Bildgewinnung und -auswertung auseinandersetzt. Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León studierte Elektrotechnik an der Universität Karlsruhe (TH). Nach seiner Promotion auf dem Gebiet der Bildauswertung übernahm er am Institut für Mess- und Regelungstechnik der Universität Karlsruhe die Leitung der Forschungsgruppe „Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung“. Ab 2001 war er bei der Firma DS2 im Bereich der Signalverarbeitung als Gruppenleiter tätig. Zum April 2003 wurde er auf die Professur für Verteilte Messsysteme an der TU München berufen, wo er das Fachgebiet „Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung“ in Forschung und Lehre vertrat. Seit Oktober 2008 leitet er das Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) am KIT. Er ist Mitglied des wissenschaftlichen Beirats der Fraunhofer-Allianz Vision und der AMA sowie der Fachzeitschriften Information Fusion, Metrology & Measurement Systems und Transactions on Systems, Signals and Devices. Christian Frese hat sich bereits während seines Studiums der Informatik intensiv mit dem Thema Bildverarbeitung beschäftigt. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter hat er Einblick in aktuelle Forschungsarbeiten zur automatischen Sichtprüfung, Bildverarbeitung und –auswertung erhalten und war selbst an Projekten zur Auswertung von Stereobildserien beteiligt. Er hat ca. 20 wissenschaftliche Veröffentlichungen in den Bereichen mobile Robotik und Bildverarbeitung verfasst, die Mehrzahl davon als Erstautor.
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