автор: Titu I. Bajenescu

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Titu I. Bajenescu & Marius I. Bazu: Reliability of Electronic Components
The first detailed studies of electronic components reliability were undertaken to improve the performance of communications and navigational systems used by the American army. The techniques then de …
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H. Arnold & J. Baier: Mikroelektronik 89
Die Informationstagung ‘Mikroelektronik’ findet im Rahmen der ie (Internationale Fachmesse für industrielle Elektronik) seit dem Jahr 1975 im Abstand von zwei Jahren statt. Die Einzelbeiträge der Tag …
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