C.A.J. Ammerlaan & A. Chantre 
Science and Technology of Defects in Silicon [PDF ebook] 

สนับสนุน

This volume reviews recent developments in the materials science of silicon. The topics discussed range from the fundamental characterization of the physical properties to the assessment of materials for device applications, and include: crystal growth; process-induced defects; topography; hydrogenation of silicon; impurities; and complexes and interactions between impurities.In view of its key position within the conference scope, several papers examine process induced defects: defects due to ion implantation, silicidation and dry etching, with emphasis being placed on the device aspects. Special attention is also paid to recent developments in characterization techniques on epitaxially grown silicon, and silicon-on-insulators.

€56.70
วิธีการชำระเงิน
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● ISBN 9780080983646 ● บรรณาธิการ C.A.J. Ammerlaan & A. Chantre ● สำนักพิมพ์ Elsevier Science ● การตีพิมพ์ 2014 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 6 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 5655024 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

37,185 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้