Glen E. Clarke & Daniel Lachance 
CompTIA Security+ Certification Practice Exams, Second Edition (Exam SY0-401) [EPUB ebook] 

สนับสนุน

Don’t Let the Real Test Be Your First Test!Prepare for Comp TIA Security+ Exam SY0-401 with Mc Graw-Hill Professional–a Platinum-Level Comp TIA Authorized Partner offering Authorized Comp TIA Approved Quality Content to give you the competitive edge on exam day.Comp TIA Security+ Certification Practice Exams, Second Edition (Exam SY0-401) is filled with more than 800 realistic practice questions–including new performance-based questions–to prepare you for this challenging exam. To help you understand the material, in-depth explanations of both the correct and incorrect answers are included for every question. This practical guide covers all official objectives for Exam SY0-401 and is the perfect companion to Comp TIA Security+ Certification Study Guide, Second Edition.Covers all exam topics, including:Networking Basics and Terminology * Security Terminology * Security Policies and Standards * Types of Attacks * System Security Threats * Mitigating Security Threats * Implementing System Security * Securing the Network Infrastructure * Wireless Networking and Security * Authentication * Access Control * Cryptography * Managing a Public Key Infrastructure * Physical Security * Risk Analysis * Disaster Recovery and Business Continuity * Computer Forensics * Security Assessments and Audits * Monitoring and Auditing Electronic content includes: Test engine that provides full-length practice exams and customized quizzes by chapter or by exam domain PDF copy of the book for studying on the go

€34.75
วิธีการชำระเงิน
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป EPUB ● หน้า 384 ● ISBN 9780071841313 ● สำนักพิมพ์ McGraw-Hill Education ● การตีพิมพ์ 2014 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 6 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 3252441 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

74,651 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้