Michael Pecht & Riko Radojcic 
Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability [PDF ebook] 

สนับสนุน

Achieving cost-effective performance over time requires an organized, disciplined, and time-phased approach to product design, development, qualification, manufacture, and in-service management. Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability examines the principal failure mechanisms associated with modern integrated circuits and describes common practices used to resolve them.
This quick reference on semiconductor reliability addresses the key question: How will the understanding of failure mechanisms affect the future?
Chapters discuss:

  • failure sites, operational loads, and failure mechanism

  • intrinsic device sensitivities

  • electromigration

  • hot carrier aging

  • time dependent dielectric breakdown

  • mechanical stress induced migration

  • alpha particle sensitivity

  • electrostatic discharge (ESD) and electrical overstress

  • latch-up

  • qualification

  • screening

  • guidelines for designing reliability
    Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability focuses on device failure and causes throughout – providing a thorough framework on how to model the mechanism, test for defects, and avoid and manage damage. It will serve as an exceptional resource for electrical engineers as well as mechanical engineers working in the field of electronic packaging.
  • €77.50
    วิธีการชำระเงิน
    ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
    รูป PDF ● หน้า 224 ● ISBN 9781351443579 ● สำนักพิมพ์ CRC Press ● การตีพิมพ์ 2017 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 5597057 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
    ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

    หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

    16,475 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้