MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and...
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● ISBN 9781461561071 ● Редактор Yervant Zorian ● Видавець Springer US ● Опубліковано 2012 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 4614627 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM