This book describes means in improving the technology of LSI/VLSI ICs production. It does so by concentrating on improvements of manufacturing yield and quality of the products by detecting weak points which should be eliminated on the way up the learning curve. The book presents a systematic approach to the problem, covering primarily methods based on the use of test patterns measurements, in both mass production and in research and development activities. The main groups of defects found in IC chips and ways to detect them using test structures are discussed in detail.
€184.99
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● Trang 372 ● ISBN 9789814439268 ● Kích thước tập tin 20.8 MB ● Nhà xuất bản World Scientific Publishing Company ● Thành phố Singapore ● Quốc gia SG ● Được phát hành 1991 ● Có thể tải xuống 24 tháng ● Tiền tệ EUR ● TÔI 2639759 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM
Thêm sách điện tử từ cùng một tác giả / Biên tập viên
97.178 Ebooks trong thể loại này
