This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
€57.60
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● ISBN 9783642420245 ● Biên tập viên D. Boolchandani & Manoj Singh Gaur ● Nhà xuất bản Springer Berlin Heidelberg ● Được phát hành 2013 ● Có thể tải xuống 3 lần ● Tiền tệ EUR ● TÔI 6324002 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM
Thêm sách điện tử từ cùng một tác giả / Biên tập viên
3.682 Ebooks trong thể loại này
