Martin Gall & Paul S. Ho 
Electromigration in Metals [PDF ebook] 
Fundamentals to Nano-Interconnects

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Língua Inglês ● Formato PDF ● ISBN 9781009287791 ● Editora Cambridge University Press ● Publicado 2022 ● Carregável 3 vezes ● Moeda EUR ● ID 8408038 ● Proteção contra cópia Adobe DRM
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