The 1985 Amsterdam conference brought together researchers active in pattern recognition methodology and the development of practical applications. The first part of the book covers various methodological aspects of image processing, knowledge based and model driven image understanding systems, 3-D reconstruction methods, and application oriented papers. Part II deals with aspects of statistical pattern recognition, the problem of population classification, and topics common to both pattern recognition and artificial intelligence.
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● ISBN 9780444599223 ● บรรณาธิการ E.S. Gelsema & L.N. Kanal ● สำนักพิมพ์ Elsevier Science ● การตีพิมพ์ 2012 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 6 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 3062439 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM