This new volume of the highly respected Physics of Thin Films Serial discusses inhomogeneity in real films and surfaces. The volume, guest-edited by K. Vedam, follows the growth of thin films both from the surface of the substrate, and from the atomic level, layer by layer. The text features coverage of Real-Time Spectroscopic Ellipsometry (RTSE) and Reflectance Anisotropy (RA), two major breakthrough optical techniques used to characterize real time and insitu films and surfaces. In six insightful chapters, the contributors assess the impact of these techniques, their strengths and limitations, and their potential for further development.
€56.73
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng PDF ● ISBN 9781483288932 ● Biên tập viên K. Vedam ● Nhà xuất bản Elsevier Science ● Được phát hành 2013 ● Có thể tải xuống 3 lần ● Tiền tệ EUR ● TÔI 5736766 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM
Thêm sách điện tử từ cùng một tác giả / Biên tập viên
36.496 Ebooks trong thể loại này
