The use of low dielectric constant (low-k) interdielectrics in multilevel structure integrated circuits (ICs) can lower line-to-line noise in interconnects and alleviate power dissipation issues by reducing the capacitance between the interconnect conductor lines. Because of these merits, low-k interdielectric materials are currently in high demand in the development of advanced ICs. One important approach to obtaining low-k values is the incorporation of nanopores into dielectrics. This book provides an overview of the methodologies and characterization techniques used for investigating low-k nanoporous interdielectrics.
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
định dạng PDF ● Trang 75 ● ISBN 9781617283185 ● Biên tập viên Kyuyoung Heo & Moonhor Ree ● Nhà xuất bản Nova Science Publishers ● Được phát hành 2016 ● Có thể tải xuống 3 lần ● Tiền tệ EUR ● TÔI 7228480 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM