David L. Griscom & Gianfranco Pacchioni 
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology [PDF ebook] 

الدعم

Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

€229.74
طرق الدفع
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● ISBN 9789401009447 ● محرر David L. Griscom & Gianfranco Pacchioni ● الناشر Springer Netherlands ● نشرت 2012 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 4593459 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM

المزيد من الكتب الإلكترونية من نفس المؤلف (المؤلفين) / محرر

36٬878 كتب إلكترونية في هذه الفئة