David L. Griscom & Gianfranco Pacchioni 
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology [PDF ebook] 

Підтримка

Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

€229.74
методи оплати
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● ISBN 9789401009447 ● Редактор David L. Griscom & Gianfranco Pacchioni ● Видавець Springer Netherlands ● Опубліковано 2012 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 4593459 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM

Більше електронних книг того самого автора / Редактор

36 878 Електронні книги в цій категорі