Anand Darji & Sudeb Dasgupta 
VLSI Design and Test [EPUB ebook] 
26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers

สนับสนุน

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.

€114.66
วิธีการชำระเงิน
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป EPUB ● ISBN 9783031215148 ● บรรณาธิการ Anand Darji & Sudeb Dasgupta ● สำนักพิมพ์ Springer Nature Switzerland ● การตีพิมพ์ 2022 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 8806031 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

18,519 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้