N.B. Balamurugan & S. Rajaram 
VLSI Design and Test [EPUB ebook] 
22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers

สนับสนุน

This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and No C; sensors and interfaces.

€115.25
วิธีการชำระเงิน
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป EPUB ● ISBN 9789811359507 ● บรรณาธิการ N.B. Balamurugan & S. Rajaram ● สำนักพิมพ์ Springer Singapore ● การตีพิมพ์ 2019 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 7014333 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM

หนังสืออิเล็กทรอนิกส์เพิ่มเติมจากผู้แต่งคนเดียวกัน / บรรณาธิการ

3,692 หนังสืออิเล็กทรอนิกส์ในหมวดหมู่นี้