Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.
Seizo Morita & Franz J. Giessibl
Noncontact Atomic Force Microscopy [PDF ebook]
Volume 2
Noncontact Atomic Force Microscopy [PDF ebook]
Volume 2
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● หน้า 401 ● ISBN 9783642014956 ● ขนาดไฟล์ 16.7 MB ● บรรณาธิการ Seizo Morita & Franz J. Giessibl ● สำนักพิมพ์ Springer Berlin ● เมือง Heidelberg ● ประเทศ DE ● การตีพิมพ์ 2009 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 24 เดือน ● เงินตรา EUR ● ID 2170482 ● ป้องกันการคัดลอก โซเชียล DRM