E. Meyer & S. Morita 
Noncontact Atomic Force Microscopy [PDF ebook] 

الدعم

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

€230.77
طرق الدفع
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● ISBN 9783642560194 ● محرر E. Meyer & S. Morita ● الناشر Springer Berlin Heidelberg ● نشرت 2012 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 6326813 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM

المزيد من الكتب الإلكترونية من نفس المؤلف (المؤلفين) / محرر

88٬492 كتب إلكترونية في هذه الفئة