"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● صفحات 1016 ● ISBN 9780203908709 ● محرر Rene Van Grieken & A. Markowicz ● الناشر CRC Press ● نشرت 2001 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 7213665 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM