"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
язык английский ● Формат PDF ● страницы 1016 ● ISBN 9780203908709 ● редактор Rene Van Grieken & A. Markowicz ● издатель CRC Press ● опубликованный 2001 ● Загружаемые 3 раз ● валюта EUR ● Код товара 7213665 ● Защита от копирования Adobe DRM
Требуется устройство для чтения электронных книг с поддержкой DRM