"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
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Língua Inglês ● Formato PDF ● Páginas 1016 ● ISBN 9780203908709 ● Editor Rene Van Grieken & A. Markowicz ● Editora CRC Press ● Publicado 2001 ● Carregável 3 vezes ● Moeda EUR ● ID 7213665 ● Proteção contra cópia Adobe DRM
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