A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans 
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II [PDF ebook] 
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

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Sprache Englisch ● Format PDF ● ISBN 9783642618710 ● Herausgeber A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans ● Verlag Springer Berlin Heidelberg ● Erscheinungsjahr 2013 ● herunterladbar 3 mal ● Währung EUR ● ID 6329211 ● Kopierschutz Adobe DRM
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