A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans 
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II [PDF ebook] 
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

Ajutor
€113.67
Metode de plata
Cumpărați această carte electronică și primiți încă 1 GRATUIT!
Limba Engleză ● Format PDF ● ISBN 9783642618710 ● Editor A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans ● Editura Springer Berlin Heidelberg ● Publicat 2013 ● Descărcabil 3 ori ● Valută EUR ● ID 6329211 ● Protecție împotriva copiilor Adobe DRM
Necesită un cititor de ebook capabil de DRM

Mai multe cărți electronice de la același autor (i) / Editor

27.599 Ebooks din această categorie