A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans 
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II [PDF ebook] 
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

Support
€113.67
méthodes de payement
Achetez cet ebook et obtenez-en 1 de plus GRATUITEMENT !
Langue Anglais ● Format PDF ● ISBN 9783642618710 ● Éditeur A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans ● Maison d’édition Springer Berlin Heidelberg ● Publié 2013 ● Téléchargeable 3 fois ● Devise EUR ● ID 6329211 ● Protection contre la copie Adobe DRM
Nécessite un lecteur de livre électronique compatible DRM

Plus d’ebooks du même auteur(s) / Éditeur

27 599 Ebooks dans cette catégorie