A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans 
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II [PDF ebook] 
Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

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Língua Inglês ● Formato PDF ● ISBN 9783642618710 ● Editor A. Benninghoven & C.A. Jr. Evans ● Editora Springer Berlin Heidelberg ● Publicado 2013 ● Carregável 3 vezes ● Moeda EUR ● ID 6329211 ● Proteção contra cópia Adobe DRM
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