Timing, memory, power dissipation, testing, and testability are all crucial elements of VLSI circuit design. In this volume culled from the popular VLSI Handbook, experts from around the world provide in-depth discussions on these and related topics. Stacked gate, embedded, and flash memory all receive detailed treatment, including their power cons
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भाषा अंग्रेज़ी ● स्वरूप EPUB ● पेज 384 ● ISBN 9781135499259 ● संपादक Wai-Kai Chen ● प्रकाशक CRC Press ● प्रकाशित 2003 ● डाउनलोड करने योग्य 3 बार ● मुद्रा EUR ● आईडी 7107964 ● कॉपी सुरक्षा Adobe DRM
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