Santanu Chattopadhyay 
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems [EPUB ebook] 

Wsparcie

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips

€28.32
Metody Płatności
Kup ten ebook, a 1 kolejny otrzymasz GRATIS!
Język Angielski ● Format EPUB ● Strony 138 ● ISBN 9781351227766 ● Wydawca CRC Press ● Opublikowany 2018 ● Do pobrania 3 czasy ● Waluta EUR ● ID 7121594 ● Ochrona przed kopiowaniem Adobe DRM
Wymaga czytnika ebooków obsługującego DRM

Więcej książek elektronicznych tego samego autora (ów) / Redaktor

9 787 Ebooki w tej kategorii