This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат EPUB ● Сторінки 138 ● ISBN 9781351227766 ● Видавець CRC Press ● Опубліковано 2018 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 7121594 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM