This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป EPUB ● หน้า 138 ● ISBN 9781351227766 ● สำนักพิมพ์ CRC Press ● การตีพิมพ์ 2018 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 3 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 7121594 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM