This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips
Mua cuốn sách điện tử này và nhận thêm 1 cuốn MIỄN PHÍ!
Ngôn ngữ Anh ● định dạng EPUB ● Trang 138 ● ISBN 9781351227766 ● Nhà xuất bản CRC Press ● Được phát hành 2018 ● Có thể tải xuống 3 lần ● Tiền tệ EUR ● TÔI 7121594 ● Sao chép bảo vệ Adobe DRM
Yêu cầu trình đọc ebook có khả năng DRM