This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips
Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
язык английский ● Формат EPUB ● страницы 138 ● ISBN 9781351227766 ● издатель CRC Press ● опубликованный 2018 ● Загружаемые 3 раз ● валюта EUR ● Код товара 7121594 ● Защита от копирования Adobe DRM
Требуется устройство для чтения электронных книг с поддержкой DRM