Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● صفحات 600 ● ISBN 9789047416463 ● محرر J. Drelich & Kash L. Mittal ● الناشر CRC Press ● نشرت 2005 ● للتحميل 6 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 2615258 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM