J. Drelich & Kash L. Mittal 
Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies [PDF ebook] 

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Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an

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Sprache Englisch ● Format PDF ● Seiten 600 ● ISBN 9789047416463 ● Herausgeber J. Drelich & Kash L. Mittal ● Verlag CRC Press ● Erscheinungsjahr 2005 ● herunterladbar 6 mal ● Währung EUR ● ID 2615258 ● Kopierschutz Adobe DRM
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