Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an
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भाषा अंग्रेज़ी ● स्वरूप PDF ● पेज 600 ● ISBN 9789047416463 ● संपादक J. Drelich & Kash L. Mittal ● प्रकाशक CRC Press ● प्रकाशित 2005 ● डाउनलोड करने योग्य 6 बार ● मुद्रा EUR ● आईडी 2615258 ● कॉपी सुरक्षा Adobe DRM
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