Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an
ซื้อ eBook เล่มนี้และรับฟรีอีก 1 เล่ม!
ภาษา อังกฤษ ● รูป PDF ● หน้า 600 ● ISBN 9789047416463 ● บรรณาธิการ J. Drelich & Kash L. Mittal ● สำนักพิมพ์ CRC Press ● การตีพิมพ์ 2005 ● ที่สามารถดาวน์โหลดได้ 6 ครั้ง ● เงินตรา EUR ● ID 2615258 ● ป้องกันการคัดลอก Adobe DRM
ต้องใช้เครื่องอ่านหนังสืออิเล็กทรอนิกส์ที่มีความสามารถ DRM