Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, an
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● Сторінки 600 ● ISBN 9789047416463 ● Редактор J. Drelich & Kash L. Mittal ● Видавець CRC Press ● Опубліковано 2005 ● Завантажувані 6 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 2615258 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM