Uncover the Defects that Compromise Performance and Reliability As microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
€147.02
यह ईबुक खरीदें और 1 और मुफ़्त पाएं!
स्वरूप PDF ● पेज 770 ● ISBN 9781420043778 ● संपादक Daniel M. Fleetwood & Ronald D. Schrimpf ● प्रकाशक CRC Press ● प्रकाशित 2008 ● डाउनलोड करने योग्य 3 बार ● मुद्रा EUR ● आईडी 4115286 ● कॉपी सुरक्षा Adobe DRM
एक DRM सक्षम ईबुक रीडर की आवश्यकता है
एक ही लेखक से अधिक ईबुक / संपादक
18,901 इस श्रेणी में ईबुक
