Uncover the Defects that Compromise Performance and Reliability As microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.A comprehensive survey of defe
Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
Формат PDF ● страницы 770 ● ISBN 9781420043778 ● редактор Daniel M. Fleetwood & Ronald D. Schrimpf ● издатель CRC Press ● опубликованный 2008 ● Загружаемые 3 раз ● валюта EUR ● Код товара 4115286 ● Защита от копирования Adobe DRM
Требуется устройство для чтения электронных книг с поддержкой DRM