Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
€320.68
قم بشراء هذا الكتاب الإلكتروني واحصل على كتاب آخر مجانًا!
لغة الإنجليزية ● شكل PDF ● ISBN 9783540389675 ● الناشر Springer Berlin Heidelberg ● نشرت 2013 ● للتحميل 3 مرات ● دقة EUR ● هوية شخصية 6317814 ● حماية النسخ Adobe DRM
يتطلب قارئ الكتاب الاليكتروني قادرة DRM
المزيد من الكتب الإلكترونية من نفس المؤلف (المؤلفين) / محرر
36٬620 كتب إلكترونية في هذه الفئة
