Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Англійська ● Формат PDF ● ISBN 9783540389675 ● Видавець Springer Berlin Heidelberg ● Опубліковано 2013 ● Завантажувані 3 разів ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 6317814 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM