Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
Купите эту электронную книгу и получите еще одну БЕСПЛАТНО!
язык английский ● Формат PDF ● ISBN 9783540389675 ● издатель Springer Berlin Heidelberg ● опубликованный 2013 ● Загружаемые 3 раз ● валюта EUR ● Код товара 6317814 ● Защита от копирования Adobe DRM
Требуется устройство для чтения электронных книг с поддержкой DRM