Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
€320.68
Cumpărați această carte electronică și primiți încă 1 GRATUIT!
Limba Engleză ● Format PDF ● ISBN 9783540389675 ● Editura Springer Berlin Heidelberg ● Publicat 2013 ● Descărcabil 3 ori ● Valută EUR ● ID 6317814 ● Protecție împotriva copiilor Adobe DRM
Necesită un cititor de ebook capabil de DRM
Mai multe cărți electronice de la același autor (i) / Editor
36.620 Ebooks din această categorie
