Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Inhaltsverzeichnis
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
Über den Autor
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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Sprache Deutsch ● Format PDF ● Seiten 208 ● ISBN 9783835190337 ● Verlag Vieweg & Teubner ● Ort Wiesbaden ● Land DE ● Erscheinungsjahr 2008 ● Ausgabe 5 ● herunterladbar 24 Monate ● Währung EUR ● ID 4459320 ● Kopierschutz Adobe DRM
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