Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Содержание
Methoden der Beschreibenden Statistik — Wahrscheinlichkeitsräume — Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen — Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze — Zentralsatz der Statistik — Schätzverfahren und ihre Eigenschaften — Maximum-Likelihood-Methode — Konfidenzintervalle — Tests bei Normalverteilungsannahmen — Verteilungsunabhängige Tests — Einfache Varianzanalyse — Schätzen und Testen bei der linearen Regression
Об авторе
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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язык немецкий ● Формат PDF ● страницы 208 ● ISBN 9783835190337 ● издатель Vieweg & Teubner ● город Wiesbaden ● Страна DE ● опубликованный 2008 ● Издание 5 ● Загружаемые 24 месяцы ● валюта EUR ● Код товара 4459320 ● Защита от копирования Adobe DRM
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