Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Table of Content
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
About the author
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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Language German ● Format PDF ● Pages 208 ● ISBN 9783835190337 ● Publisher Vieweg & Teubner ● City Wiesbaden ● Country DE ● Published 2008 ● Edition 5 ● Downloadable 24 months ● Currency EUR ● ID 4459320 ● Copy protection Adobe DRM
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