Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Зміст
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
Про автора
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
Придбайте цю електронну книгу та отримайте ще 1 БЕЗКОШТОВНО!
Мова Німецька ● Формат PDF ● Сторінки 208 ● ISBN 9783835190337 ● Видавець Vieweg & Teubner ● Місто Wiesbaden ● Країна DE ● Опубліковано 2008 ● Видання 5 ● Завантажувані 24 місяців ● Валюта EUR ● Посвідчення особи 4459320 ● Захист від копіювання Adobe DRM
Потрібен читач електронних книг, що підтримує DRM