Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
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表中的内容
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
关于作者
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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语言 德语 ● 格式 PDF ● 网页 208 ● ISBN 9783835190337 ● 出版者 Vieweg & Teubner ● 市 Wiesbaden ● 国家 DE ● 发布时间 2008 ● 版 5 ● 下载 24 个月 ● 货币 EUR ● ID 4459320 ● 复制保护 Adobe DRM
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