Eine elementare Darstellung statistischer Schätz- und Testverfahren einschließlich der zugrundeliegenden Modellbildung für Mathematiker, Informatiker, Wirtschaftswissenschaftler, Naturwissenschaftler und Ingenieure
Cuprins
Methoden der Beschreibenden Statistik – Wahrscheinlichkeitsräume – Zufallsvariablen und Verteilungsfunktionen – Gesetze der großen Zahlen und Grenzwertsätze – Zentralsatz der Statistik – Schätzverfahren und ihre Eigenschaften – Maximum-Likelihood-Methode – Konfidenzintervalle – Tests bei Normalverteilungsannahmen – Verteilungsunabhängige Tests – Einfache Varianzanalyse – Schätzen und Testen bei der linearen Regression
Despre autor
Prof. Dr. Jürgen Lehn, TU Darmstadt
Prof. Dr. Helmut Wegmann, TU Darmstadt
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Limba Germana ● Format PDF ● Pagini 208 ● ISBN 9783835190337 ● Editura Vieweg & Teubner ● Oraș Wiesbaden ● Țară DE ● Publicat 2008 ● Ediție 5 ● Descărcabil 24 luni ● Valută EUR ● ID 4459320 ● Protecție împotriva copiilor Adobe DRM
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